如今新興產業的發展也進一步顯示半導體檢測的重要性。隨著通信速度的加快,對基帶和射頻前端都帶來了挑戰。由于需要支持很多的模式,射頻前端也將集成的模塊如功率放大器,低噪聲放大器(LNA),雙工器和天線開關等,并將其封裝在單個組件中。在設計及生產過程中,檢測就變得很重要。只有準確測量組件的各個參數,才能相應的優化設計方案,及提升產品生產成功率。
對于
半導體檢測而言,雖然在批量生產、實驗室、晶圓等環節都需要用到,相關環節也比較復雜,但是電性能測試則是為基本的環節。半導體器件或模組,在研發、設計及生產過程中,都少不了這個環節。
在電性能測試環節,目前測試方案就是源測量單元(SMU)。SMU是一種精密電源儀器,具備電壓輸出和測量以及電流輸出和測量功能。這種對電壓和電流的控制使您可以靈活地通過歐姆定律計算電阻和功率。可同時控制與量測電壓、電流,主要為消費性電子產品、IC設計與驗證等實驗室提供電性能測試。
目前,市場上能夠提供源測量單元(SMU)廠商也不少,相關產品也有很多。然而,并不是測試儀器越昂貴,測試準確性就越高。想要意義上掌握源測量單元(SMU),要先清楚誤差產生的原因,以及減小誤差的途徑。